"Uso de AFM en Nanotecnología"
Dr. Ricardo López Esparza
Departamento de Física,
Universidad de Sonora
Resumen:
Se revisa el uso de la técnica de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) para determinar propiedades físicas de sistemas nanométricos. Dos casos son revisados en particular: una célula de cáncer uterino, de gran importancia en medicina y una superficie con estructura jerárquica relacionada a la geometría fractal.