Curso-Taller 1:
"Espectroscopía de Fotoelectrones por rayos X (XPS):
Interpretación de espectros y Aplicaciones"
Fís. Lázaro Huerta Arcos (Instituto de Investigación en Materiales, UNAM)
Ing. Roberto Mora Monroy (Universidad de Sonora)
Objetivo:
Comprender los principios físicos de XPS y uso de la técnica para identificación, cualitativa y cuantitativa de especies elementales y químicas presentes en una muestra. Conocer sobre sensibilidad de la superficie, aspectos microanalíticos de la técnica y qué tipos de materiales y problemas pueden abordarse con XPS. Conocer fundamentos avanzados de la espectroscopia XPS que son útiles para el análisis de espectros.
Estudiar XPS de resolución angular (ARXPS) y perfiles para obtener información de resolución en profundidad. Obtener información acerca de las aplicaciones recientes de XPS, utilizando historiales de casos como ejemplos. Relacionar XPS y comparar con otras técnicas analíticas.
Temario:
- Introducción al curso. Teoría y Fundamentos de Espectroscopias XPS e Instrumentación.
- Las superficies. Vacío y UHV. Tecnología de vacío.
- Conceptos avanzados de XPS en la determinación del estado químico.
- Deconvolución de espectros XPS. Simulación de fondos (background).
- Asistencia al Laboratorio de análisis de superficies. Laboratorio XPS.
Registro:
El curso no tiene costo, pero requiere Registro previo, el cual se encuentra en el siguiente Formulario